超高频RFID系统由读写器、天线、RFID标签组成，如下图所示：

因素一：阅读器传输功率

读写器的发射功率越大，读写距离越远。

因素 2：阅读器天线增益和波束宽度

天线增益越大，波束宽度越小，读写距离越长，范围越窄，读写范围控制越好。

因素 3：读取器和标签灵敏度

标签芯片和读写器的灵敏度都会影响读写距离，灵敏度越高，读写距离越远。

因素 4：多标签数量

在多标签环境下，单位时间内读取的RFID标签数量也会影响阅读器的多标签读写性能。

因素 5：读者处理碰撞的算法

一般来说，与标签冲突有两种类型：

1、多标签碰撞：当多个标签与一个读写器通信时，就会发生碰撞，这可以通过调整读写器本身的防碰撞算法来解决。

2. 多阅读器冲突：当多个阅读器同时与标签通信时，就会发生冲突。可以通过将阅读器设置为在不同的会话（调用）中与标签通信或在测试期间关闭其他阅读器来解决此问题。

因素6：标签材料

金属和液体都会对电磁波产生影响，所以需要专门设计的抗金属标签和抗液体标签：

液体应用 - 必须使用专门设计的液体标签。

金属表面-必须使用抗金属标签。

如果遇到由这两种材质制成的标签，也可以使用垂直标签——标签不直接贴在金属或液体容器表面，芯片和天线部分不与容器接触。同时，在液体和金属应用中，需要注意物品的摆放位置。过度堆叠会导致内层读取率降低。

因素 7：测试环境

建议在开放环境中进行RFID性能测试，阅读器天线与标签之间的金属、液体等障碍物，以及环境中相近频率的电磁干扰都会影响测试性能。

首先需要确认测试环境中是否存在金属障碍物，如金属网等，密集的金属网会屏蔽超高频信号，造成较大的衰减，导致无法读取标签信息。

其次，如果仓库堆满了货物，需要考虑货物的性质（金属、液体、衣物等）是否会影响电磁波，也要避免多层堆放，同时RFID设备要远离其他物品，避免交叉读取。

以上是影响RFID系统测试性能的一些因素。如果您在测试过程中遇到性能问题，不妨检查一下这些问题，以使您的RFID阅读器测试过程更加顺畅。